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专利状态
3D存储器件及其制造方法
有效
专利申请进度
申请
2020-01-15
申请公布
2020-05-29
授权
2023-10-17
预估到期
2040-01-15
专利基础信息
申请号
CN202010042708.9
申请日
2020-01-15
申请公布号
CN111211129A
申请公布日
2020-05-29
授权公布号
CN111211129B
授权公告日
2023-10-17
分类号
H10B41/35;H10B41/27;H10B43/35;H10B43/27
分类
基本电气元件;
申请人名称
长江存储科技有限责任公司
申请人地址
湖北省武汉市武汉东湖新技术开发区未来三路88号
专利法律状态
2023-10-17
授权
状态信息
授权
2020-06-23
实质审查的生效
状态信息
实质审查的生效;IPC(主分类):H01L27/11524;申请日:20200115
2020-05-29
公布
状态信息
公布
摘要
公开了一种3D存储器件及其制造方法,包括衬底;位于所述衬底上方的第一栅叠层结构和第二栅叠层结构;贯穿所述第一栅叠层结构和第二栅叠层结构的多个沟道柱;以及位于栅线缝隙中的源极导电通道,所述源极导电通道包括贯穿所述第一栅叠层结构的第一导电通道和贯穿所述第二栅叠层结构的第二导电通道,所述第一导电通道在沿所述衬底表面的方向上不连续,所述第二导电通在沿所述衬底表面的方向上连续且与所述第一导电通道连接。本申请的3D存储器件的源极导电通道中不连续的第一导电通道降低了底部受到的应力,防止了因应力过大导致的源极导电通道的倾斜和塌缩,提高了3D存储器件的良率和可靠性。
更多专利
1
半导体结构的形成方法
2
晶圆切割固定方法及其装置
3
两步L形选择性外延生长
4
半导体结构及其形成方法
5
一种三维存储器及其制作方法
6
存储器编程方法及系统
7
三维存储器、三维存储器的制备方法及电子设备
8
改善晶圆的关键尺寸均匀性的方法与装置
9
半导体器件及其制作方法
10
三维存储器的制作方法
11
用于三维NAND存储器的固件修复
12
3D存储器件及其制造方法
13
存储装置及其多遍编程操作
14
存储结构、三维存储器及其制造方法
15
用于在三维存储器件中形成台阶的方法
16
半导体器件的量测方法
17
一种3DNAND制作方法及存储器
18
三维存储器器件以及用于形成所述三维存储器器件的方法
19
芯片封装结构及其制备方法
20
半导体结构及其制备方法
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