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专利状态
晶圆结构及其制备方法、三维存储器、电子设备
有效
专利申请进度
申请
2021-03-24
申请公布
2021-07-06
授权
2023-10-31
预估到期
2041-03-24
专利基础信息
申请号
CN202110315251.9
申请日
2021-03-24
申请公布号
CN113078061A
申请公布日
2021-07-06
授权公布号
CN113078061B
授权公告日
2023-10-31
分类号
H01L21/324;H10B41/20;H10B43/20
分类
基本电气元件;
申请人名称
长江存储科技有限责任公司
申请人地址
湖北省武汉市武汉东湖新技术开发区未来三路88号
专利法律状态
2023-10-31
授权
状态信息
授权
2021-07-23
实质审查的生效
状态信息
实质审查的生效;IPC(主分类):H01L21/324;申请日:20210324
2021-07-06
公布
状态信息
公布
摘要
本申请提供了一种晶圆结构,所述晶圆结构包括晶圆及薄膜层,所述薄膜层设置于所述晶圆的一侧,所述薄膜层包括至少一个第一薄膜部及至少一个第二薄膜部,所述第一薄膜部连接所述第二薄膜部,且所述第一薄膜部与所述第二薄膜部的翘曲程度不同。通过工艺技术可对所述薄膜层的不同位置进行定制化翘曲,使得所述薄膜层形成多个所述第一薄膜部及多个所述第二薄膜部,从而控制所述晶圆结构的翘曲程度,则可以实现不同径向上的翘曲程度相同,且避免翘曲程度过大。本申请还提供了一种晶圆制备方法、三维存储器及电子设备。
更多专利
1
三维存储器件及用于形成三维存储器件的方法
2
3D存储器件及其制造方法
3
三维存储器的制作方法及三维存储器
4
三维存储器及其制造方法
5
三维存储器及其制造方法
6
半导体结构
7
测量模型的控制方法和控制系统及计算机可读介质
8
存储器的操作方法、存储器及存储系统
9
三维存储器设备的开口布局
10
三维存储器及其制备方法
11
一种晶圆的清洗方法及实现其的装置
12
用于在三维存储器件中形成台阶的方法
13
半导体结构的制作方法以及半导体结构
14
一种半导体器件
15
三维存储器件及其制造方法
16
三维存储器及其控制方法
17
半导体结构和半导体结构的台阶高度的确定方法
18
一种透射电镜的检验方法
19
三维存储器器件以及用于形成所述三维存储器器件的方法
20
半导体器件的制造方法
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