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专利状态
三维存储器的制作方法及三维存储器
有效
专利申请进度
申请
2020-07-09
申请公布
2021-12-24
授权
2023-09-05
预估到期
2040-07-09
专利基础信息
申请号 CN202111106900.0 申请日 2020-07-09
申请公布号 CN113838863A 申请公布日 2021-12-24
授权公布号 CN113838863B 授权公告日 2023-09-05
分类号 H10B43/35;H10B43/50;H10B43/27;H10B41/35;H10B41/50;H10B41/27
分类 基本电气元件;
申请人名称 长江存储科技有限责任公司
申请人地址 湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号
专利法律状态
  • 2023-09-05
    授权
    状态信息
    授权
  • 2022-06-07
    著录事项变更
    状态信息
    著录事项变更;IPC(主分类):H01L27/1157;变更事项:发明人;变更前:徐伟 杨星梅 王健舻 吴继君 黄攀 周文斌;变更后:徐伟 杨星梅 王健舻 吴继君 黄攀 周文斌 霍宗亮
  • 2022-01-11
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):H01L27/1157;申请日:20200709
  • 2021-12-24
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明提供了一种三维存储器的制作方法及三维存储器,属于半导体存储技术领域,其旨在解决对位于沟道孔底部的沟道结构进行开口时,损伤位于第一沟道孔和第二沟道孔连接处的功能层的问题;其在衬底的背面形成与沟道结构相对的第一通孔,以第一通孔为刻蚀通道对沟道结构进行刻蚀,以使沟道层朝向衬底的一端凸出所述功能层;在第一通孔内形成与沟道结构接触的半导体柱塞,从而沟道层通过半导体柱塞与衬底接触并形成电连接。本发明提供的三维存储器的制作方法及三维存储器,能够在实现衬底与沟道层电性连接的同时,可避免损伤位于第二沟道孔与第一沟道孔连接处的功能层,提高三维存储器的良率和可靠性。