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专利状态

测试电路

有效

专利申请进度

申请

2020-04-30

申请公布

2021-11-02

授权

2024-02-27

预估到期

2040-04-30

专利基础信息

申请号	CN202010367075.9	申请日	2020-04-30
申请公布号	CN113589152A	申请公布日	2021-11-02
授权公布号	CN113589152B	授权公告日	2024-02-27
分类号	G01R31/3177
分类	测量；测试;
申请人名称	中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请人地址	上海市浦东新区张江路18号

专利法律状态

2024-02-27

授权

状态信息

授权
2021-11-19

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01R31/3177；申请日:20200430
2021-11-02

公布

状态信息

公布

摘要

一种测试电路。所述测试电路包括：第一测试单元；所述第一测试单元包括：第一数据延迟发生器；所述第一数据延迟发生器的第一工作电压，大于所述待测触发器的工作电压；第一电平转换器；第一时钟延迟发生器，与延迟选通信号输出端及时钟信号输出端连接；所述第一时钟延迟发生器的第二工作电压，大于所述待测触发器的工作电压；第二电平转换器。应用上述方案，可以提高建立和保持时间的测试精度。

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