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专利状态
三维存储器器件和用于形成其的方法
有效
专利申请进度
申请
2020-11-17
申请公布
2021-09-07
授权
2023-07-21
预估到期
2040-11-17
专利基础信息
申请号 CN202080003791.7 申请日 2020-11-17
申请公布号 CN113366638A 申请公布日 2021-09-07
授权公布号 CN113366638B 授权公告日 2023-07-21
分类号 H10B41/35;H10B41/27
分类 基本电气元件;
申请人名称 长江存储科技有限责任公司
申请人地址 湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号
专利法律状态
  • 2023-07-21
    授权
    状态信息
    授权
  • 2021-09-24
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):H01L27/1157;申请日:20201117
  • 2021-09-07
    公布
    状态信息
    公布
摘要
公开了3D存储器器件和用于形成其的方法。在一个示例中,公开了用于形成3D存储器器件的方法。在衬底之上依次形成第一多晶硅层、电介质牺牲层、第二多晶硅层和电介质堆叠层。形成垂直延伸穿过电介质堆叠层、第二多晶硅层和电介质牺牲层并进入到第一多晶硅层中的沟道结构。形成垂直延伸穿过电介质堆叠层和第二多晶硅层并垂直延伸进入到电介质牺牲层中或穿过电介质牺牲层以暴露电介质牺牲层的部分的开口,以及沿着开口的侧壁的部分的多晶硅间隔体。通过开口用利用第一和第二多晶硅层之间的第三多晶硅层替换电介质牺牲层。