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专利状态
三维存储器器件和用于形成其的方法
有效
专利申请进度
申请
2020-11-17
申请公布
2021-09-07
授权
2023-07-21
预估到期
2040-11-17
专利基础信息
申请号
CN202080003791.7
申请日
2020-11-17
申请公布号
CN113366638A
申请公布日
2021-09-07
授权公布号
CN113366638B
授权公告日
2023-07-21
分类号
H10B41/35;H10B41/27
分类
基本电气元件;
申请人名称
长江存储科技有限责任公司
申请人地址
湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号
专利法律状态
2023-07-21
授权
状态信息
授权
2021-09-24
实质审查的生效
状态信息
实质审查的生效;IPC(主分类):H01L27/1157;申请日:20201117
2021-09-07
公布
状态信息
公布
摘要
公开了3D存储器器件和用于形成其的方法。在一个示例中,公开了用于形成3D存储器器件的方法。在衬底之上依次形成第一多晶硅层、电介质牺牲层、第二多晶硅层和电介质堆叠层。形成垂直延伸穿过电介质堆叠层、第二多晶硅层和电介质牺牲层并进入到第一多晶硅层中的沟道结构。形成垂直延伸穿过电介质堆叠层和第二多晶硅层并垂直延伸进入到电介质牺牲层中或穿过电介质牺牲层以暴露电介质牺牲层的部分的开口,以及沿着开口的侧壁的部分的多晶硅间隔体。通过开口用利用第一和第二多晶硅层之间的第三多晶硅层替换电介质牺牲层。
更多专利
1
晶圆键合的控制方法、控制装置、处理器和键合系统
2
掩膜版以及虚拟沟道孔的制作方法
3
晶圆结构及其制备方法、三维存储器、电子设备
4
三维存储器及其制备方法
5
三维存储器件及其形成方法
6
3D存储器件及其制造方法
7
晶圆检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质
8
两步L形选择性外延生长
9
厚度测量方法及装置
10
一种膜层生长方法及设备
11
半导体工艺以及半导体结构
12
一种擦除方法、装置及计算机可读存储介质
13
3D存储器件及其制造方法
14
存储装置及其多遍编程操作
15
电压降的确定方法、确定装置和计算机可读存储介质
16
芯片封装结构及其制备方法
17
一种三维存储器的制作方法及三维存储器
18
一种3DNAND制作方法及存储器
19
形成三维存储器的方法以及三维存储器
20
用于操作半导体器件的方法及半导体器件
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