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专利状态
三维存储器器件以及其制作方法
有效
专利申请进度
申请
2018-11-07
申请公布
2021-01-01
授权
2024-02-27
预估到期
2038-11-07
专利基础信息
申请号
CN202010920661.1
申请日
2018-11-07
申请公布号
CN112164698A
申请公布日
2021-01-01
授权公布号
CN112164698B
授权公告日
2024-02-27
分类号
H10B43/27;H10B43/35
分类
基本电气元件;
申请人名称
长江存储科技有限责任公司
申请人地址
湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号
专利法律状态
2024-02-27
授权
状态信息
授权
2021-01-19
实质审查的生效
状态信息
实质审查的生效;IPC(主分类):H01L27/11582;申请日:20181107
2021-01-01
公布
状态信息
公布
摘要
本公开内容提供三维存储器器件的方法与结构。在示例中,用于形成存储器器件的方法包括以下操作。首先,可以在第一晶圆之上形成多个第一半导体沟道,第一晶圆具有外围器件以及与多个第一半导体沟道相邻的多个第一过孔结构。多个第一半导体沟道可以沿着垂直于第一晶圆的表面的方向延伸。此外,可以在第二晶圆之上形成多个第二半导体沟道,第二晶圆具有与多个第二半导体沟道相邻的多个第二过孔结构。多个第二半导体沟道可以沿着垂直于第二晶圆的表面和外围过孔结构的方向延伸。
更多专利
1
MOS晶体管及其制造方法与包含MOS晶体管的三维存储器
2
一种半导体器件
3
薄膜的检测方法
4
3D存储器件及其制造方法
5
三维存储器件及其形成方法
6
半导体器件的制造方法
7
厚度测量方法及装置
8
三维存储装置及其制造方法
9
电压降的确定方法、确定装置和计算机可读存储介质
10
测量模型的控制方法和控制系统及计算机可读介质
11
一种三维存储器及其制作方法
12
3D存储器件及其制造方法
13
三维存储器件及用于形成三维存储器件的方法
14
三维存储器及其制作方法
15
三维存储器的制造方法及三维存储器
16
三维存储装置及其形成方法
17
半导体器件及用于形成半导体器件的方法
18
用于校准粒子束的垂直度的方法以及应用于半导体制造工艺的系统
19
一种切片样品的检测方法
20
存储器及其形成方法、存储器的存储单元的选择方法
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