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专利状态
半导体结构及其形成方法
有效
专利申请进度
申请
2019-12-20
申请公布
2021-06-22
授权
2023-12-22
预估到期
2039-12-20
专利基础信息
申请号 CN201911330044.X 申请日 2019-12-20
申请公布号 CN113013099A 申请公布日 2021-06-22
授权公布号 CN113013099B 授权公告日 2023-12-22
分类号 H01L21/8234;H01L27/088
分类 基本电气元件;
申请人名称 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请人地址 上海市浦东新区张江路18号
专利法律状态
  • 2023-12-22
    授权
    状态信息
    授权
  • 2021-06-22
    公布
    状态信息
    公布
摘要
一种半导体结构及其形成方法,所述方法包括:提供衬底,所述衬底包括若干器件区,以及位于相邻器件区之间的隔离区;在所述衬底表面形成源漏掺杂层;在所述隔离区内形成第一开口;在所述第一开口内形成第一隔离结构;在形成所述第一隔离结构后,在所述器件区的源漏掺杂层表面形成沟道柱;形成环绕所述沟道柱的侧壁的栅结构。所述方法能够提高半导体器件的性能。