检测件与芯片的检测方法_专利查询-品牌网

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专利状态

检测件与芯片的检测方法

有效

专利申请进度

申请

2021-09-03

申请公布

2021-12-31

授权

2023-09-26

预估到期

2041-09-03

专利基础信息

申请号	CN202111032956.6	申请日	2021-09-03
申请公布号	CN113866590A	申请公布日	2021-12-31
授权公布号	CN113866590B	授权公告日	2023-09-26
分类号	G01R31/28;G01R1/04
分类	测量；测试;
申请人名称	长江存储科技有限责任公司
申请人地址	湖北省武汉市武汉东湖新技术开发区未来三路88号

专利法律状态

2023-09-26

授权

状态信息

授权
2022-01-21

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01R31/28；申请日:20210903
2021-12-31

公布

状态信息

公布

摘要

本申请公开了一种检测件与芯片的检测方法，该检测件用于检测芯片，包括：基板；多个引脚，位于基板的表面；多个外连接部，位于基板的表面边缘，与多个引脚分隔设置；以及内部引线，位于基板中，连接对应的引脚和外连接部，其中，基板的表面具有第一承载区和第二承载区，每个引脚的第一端靠近第一承载区，每个引脚的第二端靠近第二承载区。通过将第一承载区域与第二承载区域设置在检测件的基板表面，且多个引脚的两端分别靠近第一承载区域与第二承载区域，无论待测芯片通过正面还是背面固定基板上，都能够使得芯片的焊盘与检测件的引脚顺序连接，因此，该检测件对正面或反面固定的待测芯片均能检测。

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