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专利状态
一种晶相结构的判断方法及晶相标定模板
有效
专利申请进度
申请
2021-02-22
申请公布
2021-05-11
授权
2024-02-20
预估到期
2041-02-22
专利基础信息
申请号 CN202110198203.6 申请日 2021-02-22
申请公布号 CN112782203A 申请公布日 2021-05-11
授权公布号 CN112782203B 授权公告日 2024-02-20
分类号 G01N23/207;G01N23/2251;CN107421971A,2017.12.01;CN109523565A,2019.03.26;JP2010256261A,2010.11.11;CN101697023A,2010.04.21;CN102709416A,2012.10.03;CN104316550A,2015.01.28;CN105779940A,2016.07.20;CN107085003A,2017.08.22;CN108593690A,2018.09.28;CN109387531A,20
分类 测量;测试;
申请人名称 长江存储科技有限责任公司
申请人地址 湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号
专利法律状态
  • 2024-02-20
    授权
    状态信息
    授权
  • 2021-05-28
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):G01N23/207;申请日:20210222
  • 2021-05-11
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明实施例公开了一种晶相结构的判断方法,所述方法包括:提供晶相标定模板,所述晶相标定模板包括N个同心的晶相标定圆,不同所述晶相标定圆用于标定不同晶面间距的晶相结构;其中,N为大于或等于1的正整数;获取待判断样品的晶格衍射图像;将所述晶相标定模板放置在所述待判断样品的晶格衍射图像上,并使所述N个同心的晶相标定圆的圆心与所述晶格衍射图像的中心重合;基于所述晶格衍射图像中的衍射光斑与所述晶相标定圆的相对位置关系,确定所述待判断样品的晶相结构。