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专利状态
一种物体测量的方法及设备
有效
专利申请进度
申请
2020-06-19
申请公布
2020-10-09
授权
2022-10-11
预估到期
2040-06-19
专利基础信息
申请号 CN202010563722.3 申请日 2020-06-19
申请公布号 CN111750804A 申请公布日 2020-10-09
授权公布号 CN111750804B 授权公告日 2022-10-11
分类号 G01B11/25;G01B11/00
分类 测量;测试;
申请人名称 浙江华睿科技股份有限公司
申请人地址 浙江省杭州市滨江区滨安路1199号C10
专利法律状态
  • 2022-10-11
    授权
    状态信息
    授权
  • 2020-10-09
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本申请提供一种物体测量的方法及设备,用以提高三维数据信息的扫描精度。本申请通过已标定的摄像机,获取含有线结构光光条的目标图像,其中线结构光光条是结构光传感器已标定的曲面模型在物体表面上形成的;基于已标定的摄像机的相机成像模型和目标图像,确定用于表示物体表面轮廓的三维坐标点。本申请按照结构光传感器的曲面模型与摄像机的相机成像模型向结合,确定用于表示物体表面轮廓的三维坐标点,提升了三维扫描的精度。