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专利状态
质量检测方法及系统、电子设备、存储介质
有效
专利申请进度
申请
2021-07-28
申请公布
2021-08-27
授权
2021-11-23
预估到期
2041-07-28
专利基础信息
申请号 CN202110853663.8 申请日 2021-07-28
申请公布号 CN113313710A 申请公布日 2021-08-27
授权公布号 CN113313710B 授权公告日 2021-11-23
分类号 G06T7/00;G06T3/40;G06T17/20;G01B11/24;G01B11/00
分类 计算;推算;计数;
申请人名称 浙江华睿科技股份有限公司
申请人地址 浙江省杭州市滨江区滨安路1181号A幢8层
专利法律状态
  • 2021-11-23
    授权
    状态信息
    授权
  • 2021-09-14
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):G06T7/00;申请日:20210728
  • 2021-08-27
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明提供了一种质量检测方法及系统、电子设备、存储介质,所述方法包括:在运动平台承载被检测对象运动过程中,基于由运动平台的编码器测量得到的编码值触发线激光三维扫描仪对所述被检测对象进行扫描;基于编码值对线激光三维扫描仪扫描得到的单帧点云数据进行拼接,得到多帧点云数据;对多帧点云数据进行多次表面拟合,得到被检测对象的各表面的点云数据;每次表面拟合基于当前的多帧点云数据进行一个表面的拟合,得到一个表面的点云数据,并在从当前的多帧点云数据中剔除一个表面的点云数据后,进行下一次表面拟合;基于被检测对象的各表面的点云数据进行被检测对象的质量检测。本发明测量精度较高,并提升了测量效率。