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专利状态
化纤丝锭表面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质
有效
专利申请进度
申请
2021-08-05
申请公布
2021-09-03
授权
2021-11-23
预估到期
2041-08-05
专利基础信息
申请号 CN202110893697.X 申请日 2021-08-05
申请公布号 CN113344923A 申请公布日 2021-09-03
授权公布号 CN113344923B 授权公告日 2021-11-23
分类号 G06T7/00;G06T7/11;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08
分类 计算;推算;计数;
申请人名称 浙江华睿科技股份有限公司
申请人地址 浙江省杭州市滨江区滨安路1181号A幢8层
专利法律状态
  • 2021-11-23
    授权
    状态信息
    授权
  • 2021-09-21
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):G06T7/00;申请日:20210805
  • 2021-09-03
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明公开了一种化纤丝锭表面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质。所述方法包括以下步骤:获取输入图片中的丝锭表面区域,对所述丝锭表面区域进行分割处理,获得分割结果图;对所述分割结果图进行轮廓分析,得到输入图片中绊丝的所有候选轨迹;提取所有相互连通的候选轨迹的点集作为一段绊丝的点集;根据点集的长度和位置对点集进行结果筛选整合,包括:对每一个点集进行线段拟合,并记录拟合线段的斜率、中心点、端点;遍历所有点集,将相近似的点集进行合并处理,整合为同一条绊丝。本发明实施例提高了绊丝数量和轨迹统计的准确率。