一种多波段的平场校正方法、装置及计算机可读介质

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专利状态

一种多波段的平场校正方法、装置及计算机可读介质

有效

专利申请进度

申请

2021-07-19

申请公布

2021-08-17

授权

2021-10-15

预估到期

2041-07-19

专利基础信息

申请号	CN202110810340.0	申请日	2021-07-19
申请公布号	CN113271393A	申请公布日	2021-08-17
授权公布号	CN113271393B	授权公告日	2021-10-15
分类号	H04N5/202
分类	电通信技术;
申请人名称	浙江华睿科技股份有限公司
申请人地址	浙江省杭州市滨江区滨安路1181号A幢8层

专利法律状态

2021-10-15

授权

状态信息

授权
2021-09-03

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):H04N5/202；申请日:20210719
2021-08-17

公布

状态信息

公布

摘要

本发明公开了一种多波段的平场校正方法、装置及计算机可读介质，属于图像处理技术领域。该方法包括：基于目标区域在自然光源环境下三个波段对应的灰度权重和三个波段光源环境下所采集目标区域的三个灰度值，确定目标区域在自然光源下的平场灰度值；之后，针对目标区域中任一像元：基于目标区域的位置信息以及尺寸信息、像元的位置信息，以及目标区域的平场灰度值，确定像元的灰度校正系数；并利用灰度校正系数对像元的灰度值进行校正，得到像元平场灰度值。由此，能够使得目标区域中所有像元具有相同的灰度响应值，解决了现有技术中由于光源波段的变化导致图像传感器对像元响应不一致的问题。

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