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专利状态
一种ToF深度测量装置、控制方法及电子设备
有效
专利申请进度
申请
2020-02-25
申请公布
2020-07-17
授权
2022-08-02
预估到期
2040-02-25
专利基础信息
申请号 CN202010116700.2 申请日 2020-02-25
申请公布号 CN111427048A 申请公布日 2020-07-17
授权公布号 CN111427048B 授权公告日 2022-08-02
分类号 G01S17/08;G01S7/481;G01S7/4861
分类 测量;测试;
申请人名称 奥比中光科技集团股份有限公司
申请人地址 广东省深圳市南山区粤海街道学府路63号高新区联合总部大厦11-13楼
专利法律状态
  • 2022-08-02
    授权
    状态信息
    授权
  • 2020-07-17
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明提供一种ToF深度测量装置、控制方法及电子设备,ToF深度测量装置包括发射模组,包括第一光源和第二光源;采集模组,包括RGB相机和ToF图像传感器,ToF图像传感器与发射模组连接;控制与处理电路,分别与所述发射模组以及所述采集模组连接,用于:提供激活信号至采集模组,使RGB相机产生同步信号、激活ToF图像传感器;根据所述同步信号生成触发信号和高/低电平信号分别提供给ToF图像传感器和发射模组,ToF图像传感器接收触发信号生成脉宽调制信号传输至发射模组。控制采集模组接收经反射回的光束并形成电信号;根据电信号计算相位差以获取距离。减小多路径干扰,可以测量远距离的物体。