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专利状态

用于芯片的测试插座

有效

专利申请进度

申请

2017-04-12

申请公布

2018-10-23

授权

2021-01-26

预估到期

2037-04-12

专利基础信息

申请号	CN201710237925.1	申请日	2017-04-12
申请公布号	CN108693458A	申请公布日	2018-10-23
授权公布号	CN108693458B	授权公告日	2021-01-26
分类号	G01R31/28;G01R1/04
分类	测量；测试;
申请人名称	环旭电子股份有限公司
申请人地址	上海市浦东新区张江高科技园区张东路1558号

专利法律状态

2021-01-26

授权

状态信息

授权
2018-11-16

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效
2018-10-23

公布

状态信息

公布

摘要

本发明涉及一种用于芯片的测试插座，其包括：凹部，其用于放置所述芯片；和两个推动机构。所述凹部被四个区段包围。所述两个推动机构分别布置于两个相邻区段处。所述两个推动机构中的每一个包括：推按按钮，其中所述推按按钮的底部连接到垂直弹性部件；推动器，其与所述推按按钮相互配合运作，其中所述推动器的一端延伸到所述凹部中，且所述推动器的相对端连接到横向弹性部件。当所述垂直弹性部件向上推动所述推按按钮时，所述推按按钮的顶部从所述区段的顶部表面突出，且所述推动器将与所述推按按钮接合。当按压所述推按按钮并使其向下移动时，所述横向弹性部件推动所述推动器朝向所述凹部移动。

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