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专利状态
在线监测氮化硅膜厚折射率的装置
有效
专利申请进度
申请
2017-08-31
授权
2018-03-16
预估到期
2027-08-31
专利基础信息
申请号 CN201721113048.9 申请日 2017-08-31
授权公布号 CN207116376U 授权公告日 2018-03-16
分类号 H01L21/66;H01L21/67
分类 基本电气元件;
申请人名称 常州亿晶光电科技有限公司
申请人地址 江苏省常州市金坛市尧塘镇金武路18号
专利法律状态
  • 2018-03-16
    授权
    状态信息
    授权
摘要
本实用新型涉及硅片生产设备技术领域,尤其涉及一种在线监测氮化硅膜厚折射率的装置,本实用新型的在线监测氮化硅膜厚折射率的装置,能够在线实时监测膜厚折射率,实现膜厚折射率有效的管控,减少膜厚折射率异常带来的效率损失,减少颜色分选过程中造成的摩擦痕,节约人工成本,结构简单,操作方便,便于推广和应用。