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专利状态
一种监控FPC金手指金面粗糙的工艺方法
有效
专利申请进度
申请
2015-12-10
申请公布
2016-04-06
授权
2017-11-07
预估到期
2035-12-10
专利基础信息
申请号 CN201510918555.9 申请日 2015-12-10
申请公布号 CN105470161A 申请公布日 2016-04-06
授权公布号 CN105470161B 授权公告日 2017-11-07
分类号 H01L21/66;H05K3/40
分类 基本电气元件;
申请人名称 深圳市精诚达电路科技股份有限公司
申请人地址 广东省深圳市宝安区沙井镇辛养村西环工业区B栋
专利法律状态
  • 2017-11-07
    授权
    状态信息
    授权
  • 2016-05-04
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效IPC(主分类):H01L 21/66申请日:20151210
  • 2016-04-06
    公布
    状态信息
    公开
摘要
本发明提供一种监控FPC金手指金面粗糙的工艺方法,包括:S1:使用金相显微镜对FPC金手指的金面进行观察,标识出金面不平整的位置;S2:对所标识出的位置制作金相切片;S3:使用金相显微镜确认切片上镍面凸起或凹陷的位置,测量所述镍面凸起或凹陷的高度;S4:判断所述高度是否符合预设的判定标准。本发明量化了金面平整度的检测过程,显著提高检测的精确度,确保最终成品的金面的平整度符合客户的标准,提高良品率以及客户的满意度。