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专利状态
测量装置和测量方法
有效
专利申请进度
申请
2017-06-15
申请公布
2017-10-24
授权
2023-09-15
预估到期
2037-06-15
专利基础信息
申请号 CN201710452675.3 申请日 2017-06-15
申请公布号 CN107289915A 申请公布日 2017-10-24
授权公布号 CN107289915B 授权公告日 2023-09-15
分类号 G01C15/00;G01C21/10
分类 测量;测试;
申请人名称 杭州士兰微电子股份有限公司
申请人地址 浙江省杭州市黄姑山路4号
专利法律状态
  • 2023-09-15
    授权
    状态信息
    授权
  • 2017-11-24
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):G01C15/00;申请日:20170615
  • 2017-10-24
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明提供了一种测量装置及测量方法,所述测量装置用以测量被测物体的高度和/或深度,其中,加速度传感器感测所述测量装置的自由落体状态,处理单元根据所述加速度传感器感测到的自由落体状态计算所述被测物体的高度和/或深度,即只要执行松开所述测量装置的动作,即可得到被测物体的高度和/或深度,测量非常简便;同时,由于利用的是所述测量装置的部分或者全部自一被测物体处做自由落体运动,其不会受到光线、距离等因素的干扰,即高度和/或深度的测量干扰小,由此也就使得测量非常准确。