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专利状态
一种三维扫描系统及方法
有效
专利申请进度
申请
2018-05-31
申请公布
2018-11-13
授权
2022-05-13
预估到期
2038-05-31
专利基础信息
申请号 CN201810552440.6 申请日 2018-05-31
申请公布号 CN108805976A 申请公布日 2018-11-13
授权公布号 CN108805976B 授权公告日 2022-05-13
分类号 G06T17/00
分类 计算;推算;计数;
申请人名称 武汉中观自动化科技有限公司
申请人地址 湖北省武汉市东湖高新技术开发区关山二路特1号武汉国际企业中心3幢401号
专利法律状态
  • 2022-05-13
    授权
    状态信息
    授权
  • 2018-11-13
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明涉及一种三维扫描系统及方法,其系统包括跟踪设备、扫描仪和处理器,扫描仪表面设置有多个参考标志点;跟踪设备获取其视场范围内的参考标志点的第一坐标;扫描仪对目标物体进行扫描,获取在目标物体表面形成的扫描点的第二坐标;处理器获取参考标志点的第二坐标,还根据参考标志点的第一坐标、参考标志点的第二坐标和扫描点的第二坐标在第一坐标系中构建目标物体表面,生成目标物体的三维模型。本发明通过分别获取参考反光点的第一坐标和扫描点的第二坐标,根据参考反光点的第一坐标和扫描点的第二坐标得到扫描点的第一坐标,即可在第一坐标系中构建目标物体的表面,从而生成目标物体三维模型,扫描精度高,方便快捷,且工作空间可扩展。