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专利状态
一种确定摄影测量中标志点的法向及半径的方法和系统
有效
专利申请进度
申请
2017-11-07
申请公布
2018-05-15
授权
2021-02-12
预估到期
2037-11-07
专利基础信息
申请号 CN201711084036.2 申请日 2017-11-07
申请公布号 CN108038878A 申请公布日 2018-05-15
授权公布号 CN108038878B 授权公告日 2021-02-12
分类号 G06T7/62;G06T7/70
分类 计算;推算;计数;
申请人名称 武汉中观自动化科技有限公司
申请人地址 湖北省武汉市东湖高新技术开发区关山二路特1号武汉国际企业中心3幢401号
专利法律状态
  • 2021-02-12
    授权
    状态信息
    授权
  • 2018-06-08
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效
  • 2018-05-15
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明涉及一种确定摄影测量中标志点的法向及半径的方法和系统,其方法包括以下步骤:提取标志点在一张图像中成像的亚像素边缘点,并进行椭圆拟合,得到成像点;根据对极几何关系并结合成像点,找出标志点在其他多张图像上成像的同名点;采用鲁棒的平面拟合方法对多个同名点进行拟合得到拟合平面,通过拟合平面解算出标志点的法向量,并得到滤除噪声后的同名点;对滤除噪声后的同名点进行圆拟合,得到标志点的半径。采用本发明一种确定摄影测量中标志点的法向及半径的方法可以提高标志点的法向和半径的计算精度,使计算结果更加接近于真实效果。