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专利状态
一种屏下三维测量系统
有效
专利申请进度
申请
2019-11-04
申请公布
2020-04-03
授权
2022-11-18
预估到期
2039-11-04
专利基础信息
申请号 CN201911067700.1 申请日 2019-11-04
申请公布号 CN110954029A 申请公布日 2020-04-03
授权公布号 CN110954029B 授权公告日 2022-11-18
分类号 G01B11/25;G01S17/894
分类 测量;测试;
申请人名称 奥比中光科技集团股份有限公司
申请人地址 广东省深圳市南山区粤海街道学府路63号高新区联合总部大厦11-13楼
专利法律状态
  • 2022-11-18
    授权
    状态信息
    授权
  • 2020-04-03
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明提供一种屏下三维测量系统,包括:发射模组,用于发射第一斑点图案化光束;显示屏,用于接收所述第一斑点图案化光束后向目标物体发射第二斑点图案化光束;以及,用于接收并衍射或散射由所述第二斑点图案化光束被所述目标物体反射后所形成的第三斑点图案化光束,以形成第四斑点图案化光束;采集模组,包括多个像素单元,所述第四斑点图案化光束入射到所述像素单元上以形成可分辨的光斑图像。有效去除衍射/散射光斑的影响,极大提高了采集图像的精度,从而获得更精确的图像。