3D测量装置对齐标定方法、系统及计算机可读存储介质

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专利状态

3D测量装置对齐标定方法、系统及计算机可读存储介质

有效

专利申请进度

申请

2020-03-06

申请公布

2020-07-28

授权

2022-12-09

预估到期

2040-03-06

专利基础信息

申请号	CN202010152712.0	申请日	2020-03-06
申请公布号	CN111457859A	申请公布日	2020-07-28
授权公布号	CN111457859B	授权公告日	2022-12-09
分类号	G01B11/24
分类	测量；测试;
申请人名称	奥比中光科技集团股份有限公司
申请人地址	广东省深圳市南山区粤海街道学府路63号高新区联合总部大厦11-13楼

专利法律状态

2022-12-09

授权

状态信息

授权
2020-07-28

公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供一种3D测量装置的对齐标定方法、系统及计算机可读存储介质，方法应用于包括至少一个自动对焦模组和一个成像模组的3D测量装置，包括：标定自动对焦模组的镜头获得标定结果；根据标定结果获取在多个预设距离处的自动对焦模组的镜头的第一运动位移值及运动倾斜值；构建多项式拟合函数，对由运动倾斜值获取的镜头的光心偏移值与第一运动位移值进行拟合并确定多项式拟合函数中待定系数的取值，将待定系数的取值作为镜头的拟合参数进行存储；根据镜头实时移动时的第二运动位移值以及多项式拟合函数得到镜头光心偏移值；根据镜头的光心偏移值校准镜头的光心参数，对齐标定3D测量装置。简单高效，且消除重力引起的误差。

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