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专利状态
干膜封孔能力测试模具及测试构造
有效
专利申请进度
申请
2015-06-02
授权
2015-12-16
预估到期
2025-06-02
专利基础信息
申请号
CN201520371717.7
申请日
2015-06-02
授权公布号
CN204882176U
授权公告日
2015-12-16
分类号
G01N1/28
分类
测量;测试;
申请人名称
东莞市五株电子科技有限公司
申请人地址
广东省东莞市石碣镇刘屋科技中路161号
专利法律状态
2015-12-16
授权
状态信息
授权
摘要
本实用新型提供一种干膜封孔能力测试模具。所述测试模具包括基板及多个具开口的测试孔,所述孔阵列设于所述基板。同时,本实用新型还提供一种干膜封孔能力测试构造。所述测试构造包括干膜及测试模具,所述测试模具包括具蚀刻面的基板及多个具开口的测试孔,所述测试孔阵列设于所述蚀刻面,所述干膜叠设于所述蚀刻面并覆盖所述开口。本实用新型的干膜封孔能力测试模具及测试构造制作简单、成本低、操作简单及能适应生产现场要求,有效降低因干膜性能引起印刷电路板出现品质问题的风险。
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