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专利状态
MTJ器件的制作方法
有效
专利申请进度
申请
2016-11-29
申请公布
2018-06-05
授权
2021-08-27
预估到期
2036-11-29
专利基础信息
申请号 CN201611075608.6 申请日 2016-11-29
申请公布号 CN108123029A 申请公布日 2018-06-05
授权公布号 CN108123029B 授权公告日 2021-08-27
分类号 H01L43/12;H01L43/08
分类 基本电气元件;
申请人名称 中电海康集团有限公司
申请人地址 浙江省杭州市余杭区文一西路1500号1幢311
专利法律状态
  • 2021-08-27
    授权
    状态信息
    授权
  • 2021-08-13
    专利申请权、专利权的转移
    状态信息
    专利申请权的转移;IPC(主分类):H01L 43/12;专利申请号:2016110756086;登记生效日:20210730;变更事项:申请人;变更前权利人:中电海康集团有限公司;变更后权利人:中电海康集团有限公司;变更事项:地址;变更前权利人:311121 浙江省杭州市余杭区文一西路1500号1幢311室;变更后权利人:311121 浙江省杭州市余杭区文一西路1500号1幢311;变更事项:申请人;变更前权利人:;变更后权利人:浙江驰拓科技有限公司
  • 2018-06-29
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):H01L 43/12;专利申请号:2016110756086;申请日:20161129
  • 2018-06-05
    发明专利申请公布
    状态信息
    公布
摘要
本申请提供了一种MTJ器件的制作方法。该制作方法包括:步骤S1,在衬底表面上设置功能膜,形成预成品,功能膜包括MTJ膜;步骤S2,在功能膜的远离衬底的表面上设置离子注入掩膜材料,并对离子注入掩膜材料进行图形化处理得到离子注入掩膜;步骤S3,对设置有离子注入掩膜的预成品依次进行氧离子注入与退火,在离子注入掩膜之外的区域形成氧离子注入膜;步骤S4,去除氧离子注入膜,形成凹陷;步骤S5,在凹陷内设置介电材料,且使介电材料和离子注入掩膜的远离衬底的表面在同一平面,其中,介电材料的介电常数在1.4~7.0之间。该制作方法制作得到的MTJ器件的介电常数较小,使得MRAM芯片的运算速度较快。