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专利状态
测试结构与测试方法
有效
专利申请进度
申请
2019-06-28
申请公布
2020-12-29
授权
2022-09-27
预估到期
2039-06-28
专利基础信息
申请号
CN201910580420.4
申请日
2019-06-28
申请公布号
CN112151102A
申请公布日
2020-12-29
授权公布号
CN112151102B
授权公告日
2022-09-27
分类号
G11C29/08;G11C29/50
分类
信息存储;
申请人名称
中电海康集团有限公司
申请人地址
浙江省杭州市余杭区文一西路1500号1幢311室
专利法律状态
2022-09-27
授权
状态信息
授权
2020-12-29
公布
状态信息
公布
摘要
本申请提供了一种测试结构与测试方法。该测试结构对至少一个待测试器件组进行测试,待测试器件组包括多个并联的阻变器件,各阻变器件包括第一端、第二端和第三端,阻变器件的第一端为读取端,阻变器件的第二端为写入端,测试结构包括:多个第一开关,第一开关的第一端与读取端一一对应地电连接;多个第二开关,第二开关的第一端与写入端一一对应地电连接;至少一个第一测试电极,各第一测试电极与至少一个待测试器件组中的各阻变器件的第三端分别电连接;至少一个第二测试电极,各第二测试电极与至少一个待测试器件组中的各第一开关的第二端以及各第二开关的第二端分别电连接。通过控制该测试结构,可以一次对多个阻变器件的耐读写次数进行测试。
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