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专利状态

测试结构和测试方法

有效

专利申请进度

申请

2019-08-30

申请公布

2021-03-05

授权

2022-10-14

预估到期

2039-08-30

专利基础信息

申请号	CN201910819101.4	申请日	2019-08-30
申请公布号	CN112447257A	申请公布日	2021-03-05
授权公布号	CN112447257B	授权公告日	2022-10-14
分类号	G11C29/50
分类	信息存储;
申请人名称	中电海康集团有限公司
申请人地址	浙江省杭州市余杭区文一西路1500号1幢311室

专利法律状态

2022-10-14

授权

状态信息

授权
2021-03-05

公布

状态信息

公布

摘要

本申请提供了一种测试结构和测试方法，用于测试包括多个阻变器件的存储阵列。该测试结构包括：存储阵列，包括多个阻变器件，各阻变器件包括至少一个磁性层；第一导电层，与至少部分阻变器件接触设置，第一导电层的长度延伸方向为第一方向，第一方向与阻变器件的厚度方向垂直；第二导电层，与第一导电层电连接，第二导电层的延伸方向为第二方向，第二方向与第一方向之间垂直，且第二方向与阻变器件的厚度方向垂直。该测试结构对包括多个阻变器件的存储阵列进行测试，避免对多个阻变器件逐个进行测试，大大缩短了测试时间，从而解决了现有技术中的获取翻转磁场、翻转电流或者翻转电压的分布曲线所需要的时间较长的问题。

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