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专利状态
测试结构和测试方法
有效
专利申请进度
申请
2019-08-30
申请公布
2021-03-05
授权
2022-09-27
预估到期
2039-08-30
专利基础信息
申请号
CN201910819082.5
申请日
2019-08-30
申请公布号
CN112447250A
申请公布日
2021-03-05
授权公布号
CN112447250B
授权公告日
2022-09-27
分类号
G11C29/08;G11C29/54
分类
信息存储;
申请人名称
中电海康集团有限公司
申请人地址
浙江省杭州市余杭区文一西路1500号1幢311室
专利法律状态
2022-09-27
授权
状态信息
授权
2021-03-05
公布
状态信息
公布
摘要
本申请提供了一种测试结构和测试方法。该测试结构包括:至少一个自旋轨道矩提供线;多个阻变器件,各阻变器件位于自旋轨道矩提供线的表面上,阻变器件包括至少一个磁性层;第一测试电极,与至少一个自旋轨道矩提供线的一端电连接;第二测试电极,与至少一个自旋轨道矩提供线的一端电连接;第三测试电极,与阻变器件的远离自旋轨道矩提供线的一端电连接。利用本申请的测试结构进行测试,可以一次进行多个器件的测量,获取统计信息进而可以有效节省测试时间,极大提升测试效率。
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