一种数控装置老化自动测试设备

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专利状态

一种数控装置老化自动测试设备

有效

专利申请进度

申请

2014-11-28

授权

2015-03-25

预估到期

2024-11-28

专利基础信息

申请号	CN201420735630.9	申请日	2014-11-28
授权公布号	CN204229185U	授权公告日	2015-03-25
分类号	G05B19/406
分类	控制；调节;
申请人名称	武汉华中数控股份有限公司
申请人地址	湖北省武汉市东湖开发区华工科技园

专利法律状态

2015-03-25

授权

状态信息

授权

摘要

本实用新型公开了一种数控装置老化自动测试设备，包括老化箱单元，电气柜单元，老化状态实时监控单元；所述老化箱包括箱体和温度控制器；所述电气柜单元包括供电模块、伺服驱动器和伺服电机；所述实时监控单元包括信号采集电路板、置于箱体内的温度传感器、和采集并处理老化过程中箱体内状态数据控制模块。本实用新型能满足批量测试需求，安全、高效，并且能够实时处理信息得出统计规律。

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