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专利状态
相对高度测量仪
有效
专利申请进度
申请
2018-09-30
授权
2019-06-28
预估到期
2028-09-30
专利基础信息
申请号
CN201821609782.9
申请日
2018-09-30
授权公布号
CN209043171U
授权公告日
2019-06-28
分类号
G01B5/02
分类
测量;测试;
申请人名称
武汉华中数控股份有限公司
申请人地址
湖北省武汉市东湖新技术开发区庙山小区华中科技大学科技园
专利法律状态
2019-06-28
授权
状态信息
授权
摘要
本实用新型提供了一种相对高度测量仪,包括百分表和支撑架,所述支撑架包括第一安装板和第二安装板,所述第一安装板上安设有所述百分表,所述第二安装板上安设有可与所述第二安装板相对移动的顶销,所述顶销的运动方向与所述百分表的测头的长度方向相同。本实用新型提供的相对高度测量仪制造简单,操作方便,测量精度满足基本需求,提高了检验效率,降低了检验成本,满足工业领域各类相似特征的基准面在凹槽内部的物件的高度尺寸测量。
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