基于探测器温度的多点非均匀校正的方法

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专利状态

基于探测器温度的多点非均匀校正的方法

有效

专利申请进度

申请

2019-08-28

申请公布

2019-12-20

授权

2020-08-28

预估到期

2039-08-28

专利基础信息

申请号	CN201910802663.8	申请日	2019-08-28
申请公布号	CN110595630A	申请公布日	2019-12-20
授权公布号	CN110595630B	授权公告日	2020-08-28
分类号	G01J5/10
分类	测量；测试;
申请人名称	武汉华中数控股份有限公司
申请人地址	湖北省武汉市东湖新技术开发区庙山小区华中科技大学科技园

专利法律状态

2020-08-28

授权

状态信息

授权
2020-01-14

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效IPC(主分类):G01J5/10
2019-12-20

公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供了一种基于探测器温度的多点非均匀校正的方法，包括以下步骤：在探测器工作温度范围内采集多幅均匀的背景图像，保存各背景图像的本底信息，并记录对应的探测器温度AD值；根据采集的各背景图像的本底信息以及对应的探测器温度AD值拟合探测器当前温度下的本底；将探测器依次稳定在多个不同的温度点，在各温度点下分别采集高温背景和低温背景，计算探测器不同温度点对应的增益，并保存增益数据，同时保存对应的探测器温度AD值；利用探测器不同温度点对应的增益拟合探测器当前温度对应的增益；利用探测器当前温度下的本底以及探测器当前温度对应的增益，对红外图像进行校正。本发明无需打快门，节约生产成本，且能够自适应的校正红外图像。

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