基于总线式IO单元板卡智能测试装置

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专利状态

基于总线式IO单元板卡智能测试装置

有效

专利申请进度

申请

2016-10-27

授权

2017-06-27

预估到期

2026-10-27

专利基础信息

申请号	CN201621184304.9	申请日	2016-10-27
授权公布号	CN206281909U	授权公告日	2017-06-27
分类号	G01R31/00;G01R19/25
分类	测量；测试;
申请人名称	武汉华中数控股份有限公司
申请人地址	湖北省武汉市东湖新技术开发区庙山小区华中科技大学科技园

专利法律状态

2017-06-27

授权

状态信息

授权

摘要

本实用新型公开了一种基于总线式IO单元板卡智能测试装置，包括底座，所述底座内部设有电气控制模块、测试单元和输出显示单元，所述底座上面设有用于放置待测IO单元板卡的载板，所述载板上方设有压紧面板，所述压紧面板上设有一测试手柄，所述测试单元压紧面板上设有信号交互单元。本实用新型实现了被测IO单元卡板测试功能的全面、高效、智能化测试，并且能够保证测试结果的一致性与准确性。

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