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专利状态

测试用电路板

有效

专利申请进度

申请

2019-01-08

申请公布

2019-05-21

授权

2020-12-04

预估到期

2039-01-08

专利基础信息

申请号	CN201910016711.0	申请日	2019-01-08
申请公布号	CN109788628A	申请公布日	2019-05-21
授权公布号	CN109788628B	授权公告日	2020-12-04
分类号	H05K1/02;G01R31/28
分类	其他类目不包含的电技术;
申请人名称	北大方正集团有限公司
申请人地址	北京市海淀区成府路298号方正大厦9层

专利法律状态

2020-12-04

授权

状态信息

授权
2019-06-14

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效
2019-05-21

公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供了一种测试用电路板，包括：基板，基板设有Dk和Df提取区域以及信号损耗区域；信号损耗区域设有用于检测信号损耗的第一电路；Dk和Df提取区域设有用于Dk和Df提取的第二电路；其中，基板为多层结构，多层结构的基板中包括至少一层信号层，第一电路与第二电路设于每层信号层上。本发明提供的测试用电路板，通过在一块基板上，同时设置用于检测信号损耗的第一电路，以及用于Dk和Df提取的第二电路，进而能够对一块PCB板实现信号损耗的检测与Dk和Df的提取，减少了PCB板的制作时间，减少了整个测试过程所用的时间。

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