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专利状态

芯片测试装置

有效

专利申请进度

申请

2014-08-29

授权

2015-01-14

预估到期

2024-08-29

专利基础信息

申请号	CN201420495414.1	申请日	2014-08-29
授权公布号	CN204102575U	授权公告日	2015-01-14
分类号	G11C29/56
分类	信息存储;
申请人名称	深圳市嘉合劲威电子科技有限公司
申请人地址	广东省深圳市龙岗区坂田街道马安堂社区龙景工业区F栋5楼502

专利法律状态

2015-01-14

授权

状态信息

授权

摘要

一种芯片测试装置，用于测试若干芯片，每一芯片底部设有若干引脚，该芯片测试装置包括一设有若干焊盘区的电路板、一底壳、一上壳、若干连接件及两定位件，每一焊盘区包括若干焊盘，该底壳设有一收容槽，该电路板卡置于该收容槽内且焊盘朝上，该上壳固定于该底壳上并将该电路板夹置于该上壳与该底壳之间，该上壳的顶部设有两定位槽，每一定位槽开设若干收容孔，每一定位件开设若干用以收容芯片的定位口，每一连接件收容并固定于对应的收容孔内，每一连接件包括一由绝缘材料制成的安装块及设于该安装块的若干探针，这些探针的底部电性连接于对应焊盘区的焊盘，这些探针的顶部能电性连接于对应芯片的引脚，使用方便。

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