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专利状态

芯片测试装置

有效

专利申请进度

申请

2014-08-29

授权

2015-01-14

预估到期

2024-08-29

专利基础信息

申请号	CN201420498120.4	申请日	2014-08-29
授权公布号	CN204102576U	授权公告日	2015-01-14
分类号	G11C29/56
分类	信息存储;
申请人名称	深圳市嘉合劲威电子科技有限公司
申请人地址	广东省深圳市龙岗区坂田街道马安堂社区龙景工业区F栋5楼502

专利法律状态

2015-01-14

授权

状态信息

授权

摘要

一种芯片测试装置，用于测试芯片，该测试装置包括一固定架、一主板、一按压组件及一测试治具，固定架包括一立板、两调节件、连接于该两调节件并用于支撑测试治具的一支撑板及一滑动组件，滑动组件包括一第一滑动件及一第二滑动件，该按压组件包括两气缸及两按压部，按压部设有按压芯片的压块，主板设有插槽，该测试治具包括一支撑件、插接于插槽的一电路板、一夹持件及两定位板，该电路板设有焊盘，电路板夹置于支撑件与夹持件之间，夹持件设有导电件，定位板固定于夹持件且设有收容芯片的定位口，导电件的两端能够分别电连接芯片及电路板的焊盘。测试时，芯片通过压块的按压及导电件的导通而电连接于电路板，芯片更换及测试方便，效率提高。

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