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专利状态

一种闪存芯片测试架

有效

专利申请进度

申请

2015-12-30

授权

2016-06-08

预估到期

2025-12-30

专利基础信息

申请号	CN201521133492.8	申请日	2015-12-30
授权公布号	CN205302958U	授权公告日	2016-06-08
分类号	G11C29/56
分类	信息存储;
申请人名称	深圳市嘉合劲威电子科技有限公司
申请人地址	广东省深圳市龙华新区清祥路1号宝能科技园9栋C座18楼

专利法律状态

2016-06-08

授权

状态信息

授权

摘要

本实用新型公开了一种闪存芯片测试架，包括有一板体，所述板体设有电源、SATA接口、信号处理及存储单元，以及至少一个用于将闪存芯片连入电路的芯片测试座，其中：所述电源分别与所述信号处理及存储单元、芯片测试座连接；所述信号处理及存储单元分别与SATA接口、芯片测试座连接。SATA接口实现了外部测试程序源与信号处理及存储单元的连接，闪存芯片通过芯片测试座连入电路中，信号处理及存储单元分别与SATA接口、芯片测试座连接，于是可以方便的实现对多个闪存芯片的测试。本实用新型可以缩短闪存芯片的测试时间，提高生产效率，降低生产成本。

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