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专利状态
一种内存颗粒薄型测试治具
有效
专利申请进度
申请
2023-03-07
授权
2023-09-01
预估到期
2033-03-07
专利基础信息
申请号 CN202320515686.2 申请日 2023-03-07
授权公布号 CN219626326U 授权公告日 2023-09-01
分类号 G11C29/56
分类 信息存储;
申请人名称 深圳市嘉合劲威电子科技有限公司
申请人地址 广东省深圳市坪山区龙田街道老坑社区锦绣中路19号美讯数码科技厂区1号厂房B1202A
专利法律状态
  • 2023-09-01
    授权
    状态信息
    授权
摘要
本实用新型为一种内存颗粒薄型测试治具,涉及内存颗粒测试技术领域,该内存颗粒薄型测试治具包括:安装板,安装板与内存颗粒测试工装连接,安装板包括放置槽,放置槽用于放置内存颗粒;夹具组件,夹具组件与安装板连接,夹具组件能够相对于安装板进行转动,使得夹具组件的一端与安装板之间形成夹持空间,夹持空间用以夹持内存颗粒。本实用新型通过采用滑动夹钳式结构的夹具组件以夹取内存颗粒并带动内存颗粒进行滑动,通过采用夹持结构,避免治具因组件过多导致的结构复杂,本实用新型使得工件的整体厚度尺寸轻薄,且使用方便,结构简单耐用,提高了生产效率。