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专利状态
芯片测试筛选设备
有效
专利申请进度
申请
2022-10-26
授权
2023-04-07
预估到期
2032-10-26
专利基础信息
申请号 CN202222850425.4 申请日 2022-10-26
授权公布号 CN218797471U 授权公告日 2023-04-07
分类号 B07C5/344;B07C5/00;B07C5/36
分类 将固体从固体中分离;分选;
申请人名称 深圳市嘉合劲威电子科技有限公司
申请人地址 广东省深圳市坪山区龙田街道老坑社区锦绣中路19号美讯数码科技厂区1号厂房B1202A
专利法律状态
  • 2023-04-07
    授权
    状态信息
    授权
摘要
本实用新型公开一种芯片测试筛选设备,用于内存芯片,其中,芯片测试筛选设备包括机架、转运机构、至少三组承载机构、视觉检测装置以及内存芯片测试装置。机架形成有沿第一方向间隔设置的上料工位、视觉检测工位、测试工位、良品下料工位及不良品下料工位;视觉检测装置和/或内存芯片测试装置对芯片进行测试后由设于机架的转运机构将芯片传递至良品下料工位或不良品下料工位。本实用新型技术方案涉及芯片制造技术领域,本申请利用转运机构将待测试芯片在视觉检测装置与内存芯片测试装置之间运转,并在检测后直接分拣至不同工位下料,减少人工参与,降低人力成本,提高生产效率。