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专利状态
一种陶瓷电子元件金相切片及其制备方法
有效
专利申请进度
申请
2019-08-28
申请公布
2019-11-15
授权
2022-03-29
预估到期
2039-08-28
专利基础信息
申请号 CN201910805447.9 申请日 2019-08-28
申请公布号 CN110455572A 申请公布日 2019-11-15
授权公布号 CN110455572B 授权公告日 2022-03-29
分类号 G01N1/06;G01N1/28;G01N1/32;G01B7/26;G01B7/00
分类 测量;测试;
申请人名称 广东风华高新科技股份有限公司
申请人地址 广东省肇庆市风华路18号风华电子工业城
专利法律状态
  • 2022-03-29
    授权
    状态信息
    授权
  • 2019-11-15
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明公开了一种陶瓷电子元件金相切片的制备方法,包括如下步骤:(1)将待检样品、单层瓷介电容器和两个填充块并列粘贴在基板上,所述两个填充块分别靠贴在单层瓷介电容器两侧;(2)将模具粘贴在基板上,模具包围待检样品、单层瓷介电容器和填充块,然后往模具里面注入胶体,待胶体固化后得到胶块;(3)将填充块从胶块中去除,从而单层瓷介电容器的两侧各形成一个空腔;(4)将胶块研磨、抛光。本发明的陶瓷电子元件金相切片的制备方法,使检验者能够在研磨过程中获知当前剖面的研磨深度以及当前剖面在陶瓷电子元件内的具体位置,可以提高陶瓷电子元件金相切片检验分析的质量和效率。