屏幕不良检测方法、系统及计算机存储介质

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专利状态

屏幕不良检测方法、系统及计算机存储介质

有效

专利申请进度

申请

2021-05-31

申请公布

2021-08-17

授权

2024-01-09

预估到期

2041-05-31

专利基础信息

申请号	CN202110604865.9	申请日	2021-05-31
申请公布号	CN113269762A	申请公布日	2021-08-17
授权公布号	CN113269762B	授权公告日	2024-01-09
分类号	G06T7/00;G06T7/80;G06T7/11
分类	计算；推算；计数;
申请人名称	苏州华兴源创科技股份有限公司
申请人地址	江苏省苏州市工业园区青丘巷8号

专利法律状态

2024-01-09

授权

状态信息

授权
2021-09-03

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G06T7/00；申请日:20210531
2021-08-17

公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供一种屏幕不良检测方法、系统及计算机存储介质，所述方法包括步骤：获取2D相机所拍摄的屏幕图像；于屏幕图像中检测识别异常区域，并建立坐标系，计算异常区域在屏幕图像中的位置坐标信息；移动屏幕，将坐标系坐标原点与3D光场相机视野中心进行标定；根据异常区域位置坐标信息计算移动补偿值，移动屏幕，将异常区域置于3D光场相机视野中心；获取3D光场相机所拍摄的3D屏幕图像，计算异常区域的高度位置信息，判断异常区域所属不良类型，并判断屏幕是否合格。利用多次递进移动，实现了屏幕内异常点在2D相机工位和3D相机工位之间的高精度位置转换，降低了移动精度误差的影响。

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