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专利状态
屏幕缺陷检测方法和装置
有效
专利申请进度
申请
2022-09-08
申请公布
2022-10-14
授权
2022-12-16
预估到期
2042-09-08
专利基础信息
申请号
CN202211092239.7
申请日
2022-09-08
申请公布号
CN115187593A
申请公布日
2022-10-14
授权公布号
CN115187593B
授权公告日
2022-12-16
分类号
G06T7/00;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/62
分类
计算;推算;计数;
申请人名称
苏州华兴源创科技股份有限公司
申请人地址
江苏省苏州市工业园区青丘巷8号
专利法律状态
2022-12-16
授权
状态信息
授权
2022-10-14
公布
状态信息
公布
摘要
本发明揭示了一种屏幕缺陷检测方法和装置,方法包括步骤:获取多张屏幕图像,多张屏幕图像是对含缺陷屏幕在上下方向不同的对焦距离依次拍摄的多张图像;确定每张屏幕图像的缺陷区域;计算缺陷区域的缺陷区域亮度;将缺陷区域亮度最暗的图像确定为目标缺陷图像,将目标缺陷图像对应图像的层数确定为缺陷所在层。该屏幕缺陷检测方法可以准确地判断缺陷所在的位置,通过对屏幕在上下方向上的多次对焦获取图像,拍到异物在屏幕中的所在层数,通过每张屏幕图像的亮度确定拍摄到异物的目标缺陷图像,以及便于进一步确定异物的类型。
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