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专利状态
一种集成复核检测与分层检测的光机系统
有效
专利申请进度
申请
2022-09-19
授权
2022-11-01
预估到期
2032-09-19
专利基础信息
申请号 CN202222474764.7 申请日 2022-09-19
授权公布号 CN217717556U 授权公告日 2022-11-01
分类号 G01N21/95;G01N21/01
分类 测量;测试;
申请人名称 武汉精测电子集团股份有限公司
申请人地址 湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号
专利法律状态
  • 2022-11-01
    授权
    状态信息
    授权
摘要
本申请涉及一种集成复核检测与分层检测的光机系统,包括:复核检测光机,其包括复核检测相机和安装复核检测相机的复核检测相机支架;分层检测光机,其包括分层检测相机和安装分层检测相机的分层检测相机支架;光机驱动单元,其包括安装板,以及固定在安装板上并驱动复核检测光机和分层检测光机沿第一方向运动的第一方向驱动机构。申请的光机系统将复核检测光机和分层检测光机集成在了第一方向驱动机构上,以实现复核检测光机和分层检测光机自动对焦和自动检测产品全视野。减小了光机系统的体积和占地面积,且外观简洁紧凑、结构稳定可靠,兼容各种类型的显示面板的快速检测,对中、对焦调节耗时时间段、自动化程度高,提高了产品检测效率。