一种用于OLED显示屏的OTP+Demura补偿设备

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专利状态

一种用于OLED显示屏的OTP+Demura补偿设备

有效

专利申请进度

申请

2018-07-06

申请公布

2018-10-12

授权

2024-01-26

预估到期

2038-07-06

专利基础信息

申请号	CN201810735072.9	申请日	2018-07-06
申请公布号	CN108648673A	申请公布日	2018-10-12
授权公布号	CN108648673B	授权公告日	2024-01-26
分类号	G09G3/00
分类	教育；密码术；显示；广告；印鉴;
申请人名称	武汉精测电子集团股份有限公司
申请人地址	湖北省武汉市洪山区南湖大道53号洪山创业中心4楼

专利法律状态

2024-01-26

授权

状态信息

授权
2018-11-06

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G09G3/00；申请日:20180706
2018-10-12

公布

状态信息

公布

摘要

本发明公开了一种用于OLED显示屏的OTP+Demura补偿设备，包括测试平台，测试平台通过动力旋转装置连接治具安装板，治具安装板在动力旋转装置作用下可绕自身轴线回转，治具安装板上旋转对称设置有多个OLED点灯测试治具，治具安装板旁设置有换件工位、OTP测试工位和Mura补偿工位，OTP测试工位上设置有OTP测试装置，Mura补偿工位上设置有Mura补偿装置。本发明结构简单、使用方便，其通过OTP测试装置、Mura补偿装置集成于一个测试平台内并配合可旋转的治具安装板从而实现了OLED面板OTP、Demura的一站式同步检测补偿，从而极大地提高了OLED面板的检测补偿效率。

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