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专利状态
一种基于半导体制冷组件生产用检测装置
有效
专利申请进度
申请
2020-08-03
授权
2021-01-12
预估到期
2030-08-03
专利基础信息
申请号 CN202021569800.2 申请日 2020-08-03
授权公布号 CN212340320U 授权公告日 2021-01-12
分类号 G01D21/02;B07C5/04;B07C5/34
分类 测量;测试;
申请人名称 蔚县中天电子股份合作公司
申请人地址 河北省张家口市蔚县经济开发区工业街21号
专利法律状态
  • 2021-01-12
    授权
    状态信息
    授权
摘要
本实用新型公开了一种基于半导体制冷组件生产用检测装置,包括工作台、进料尺寸检测结构和制冷效率检测结构;工作台:其下表面四角对称设有支撑腿,工作台的上表面中心处设有检测箱,检测箱的底端和右侧面底端中部均为开口结构,工作台的上表面右侧中心处设有固定板,固定板的右侧面设有电机,工作台的上表面右侧前端设有水泵,水泵的出水口通过输水管一与检测箱上表面的进水口相连;进料尺寸检测结构:分别设置于工作台的上表面和固定板的左侧面,进料尺寸检测结构的上表面卡接有半导体制冷片,该基于半导体制冷组件生产用检测装置,检测半导体制冷片的尺寸,便于对半导体制冷片进行制冷效率检测。