用于微波半导体集成电路电气特性测量的校准方法及装置

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专利状态

用于微波半导体集成电路电气特性测量的校准方法及装置

有效

专利申请进度

申请

2018-10-26

申请公布

2019-01-11

授权

2020-11-03

预估到期

2038-10-26

专利基础信息

申请号	CN201811259034.7	申请日	2018-10-26
申请公布号	CN109188254A	申请公布日	2019-01-11
授权公布号	CN109188254B	授权公告日	2020-11-03
分类号	G01R31/28;G01R35/00
分类	测量；测试;
申请人名称	中电科思仪科技股份有限公司
申请人地址	山东省青岛市黄岛区香江路98号

专利法律状态

2021-03-26

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

状态信息

专利权人的姓名或者名称、地址的变更；IPC(主分类):G01R 31/28；专利号:ZL2018112590347；变更事项:专利权人；变更前:中电科仪器仪表有限公司；变更后:中电科思仪科技股份有限公司；变更事项:地址；变更前:266555 山东省青岛市经济技术开发区香江路98号；变更后:266555 山东省青岛市黄岛区香江路98号；变更事项:专利权人；变更前:中国电子科技集团公司第四十一研究所；变更后:中国电子科技集团公司第四十一研究所
2020-11-03

授权

状态信息

授权
2019-02-12

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01R 31/28；专利申请号:2018112590347；申请日:20181026
2019-01-11

发明专利申请公布

状态信息

公布

摘要

本公开提供了一种用于微波半导体集成电路电气特性测量的校准装置，包括主控单元、微波半导体器件多参数测试设备、校准通道路由单元、功率校准模块、标准信号发生模块和矢量网络分析仪校准模块；其中所述主控单元被配置为通过外部程控与供电功能，接收来自微波半导体器件多参数测试设备的校准配置信息和程控命令；和通过校准通道路由单元为测试端口分别构建相应的输出信号功率校准通道、信号接收特性校准通道和散射参数测试特性校准通道；所述功率校准模块、标准信号发生模块和矢量网络分析仪校准模块被配置为通过单次连接方式进行相应参数特性测试的自动校准。

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