一种准光腔双层材料介电性能测试方法

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专利状态

一种准光腔双层材料介电性能测试方法

有效

专利申请进度

申请

2021-07-08

申请公布

2021-11-05

授权

2024-02-06

预估到期

2041-07-08

专利基础信息

申请号	CN202110770472.5	申请日	2021-07-08
申请公布号	CN113608032A	申请公布日	2021-11-05
授权公布号	CN113608032B	授权公告日	2024-02-06
分类号	G01R27/26
分类	测量；测试;
申请人名称	中电科思仪科技股份有限公司
申请人地址	山东省青岛市黄岛区香江路98号

专利法律状态

2024-02-06

授权

状态信息

授权
2021-12-21

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01R27/26；申请日:20210708
2021-11-05

公布

状态信息

公布

摘要

本发明公开了一种准光腔双层材料介电性能测试方法，属于材料介电性能测试领域，通过考虑不同媒质界面反射的影响因素，再根据电磁波多层电解质分解面上的传播理论，然后利用多层媒质边界条件将谐振时不同媒质的电磁场分量进行匹配，从而完成准光腔双层材料介电常数高精度介电性能测试。本发明可测试两层介质材料其中一层为待测介电性能材料，另一层为可单独测试介电参数材料，也可测试利用如聚四氟乙烯、石英制备容器等容器盛装测试液体、粉末状材料的介电参数。本发明针对双层材料测试具有更高的测试精度。

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