一种布里渊光谱仪测量光谱信号基底的移除方法与装置

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专利状态

一种布里渊光谱仪测量光谱信号基底的移除方法与装置

有效

专利申请进度

申请

2021-05-28

申请公布

2021-08-27

授权

2022-06-07

预估到期

2041-05-28

专利基础信息

申请号	CN202110592163.3	申请日	2021-05-28
申请公布号	CN113310575A	申请公布日	2021-08-27
授权公布号	CN113310575B	授权公告日	2022-06-07
分类号	G01J3/02
分类	测量；测试;
申请人名称	中电科思仪科技股份有限公司
申请人地址	山东省青岛市黄岛区香江路98号

专利法律状态

2022-06-07

授权

状态信息

授权
2021-08-27

公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供了一种布里渊光谱仪测量光谱信号基底的移除方法与装置。该方法包括：获取测量光谱信号，采用s‑g算法对测量光谱信号进行滤波处理，得到第一滤波光谱信号；基于k阶自相关算法对第一滤波光谱信号处理的k阶次结果，通过s‑g算法得到第二滤波光谱信号；从第二滤波光谱信号中选取一段不包含有效光谱信息的光谱带外的光谱数据，并采用最小二乘拟合算法进行线性拟合，得到拟合光谱信号，然后得到基于拟合光谱信号的基线值；若基线值达到布里渊光谱仪的系统噪声水平，则此时对应的自相关阶次k为最优自相关次数，基于最优自相关次数和第一滤波光谱信号，得到有效光谱成分。

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