一种多频点材料测试系统及方法

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专利状态

一种多频点材料测试系统及方法

有效

专利申请进度

申请

2018-11-20

申请公布

2019-03-26

授权

2021-06-08

预估到期

2038-11-20

专利基础信息

申请号	CN201811383015.5	申请日	2018-11-20
申请公布号	CN109521079A	申请公布日	2019-03-26
授权公布号	CN109521079B	授权公告日	2021-06-08
分类号	G01N27/60;G01R27/26;G01R23/16
分类	测量；测试;
申请人名称	中电科思仪科技股份有限公司
申请人地址	山东省青岛市黄岛区香江路98号

专利法律状态

2021-06-08

授权

状态信息

授权
2021-06-04

著录事项变更

状态信息

著录事项变更；IPC(主分类):G01N 27/60；专利申请号:2018113830155；变更事项:申请人；变更前:中电科仪器仪表有限公司；变更后:中电科思仪科技股份有限公司；变更事项:地址；变更前:266555 山东省青岛市黄岛区香江路98号；变更后:266555 山东省青岛市黄岛区香江路98号
2019-04-19

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01N 27/60；专利申请号:2018113830155；申请日:20181120
2019-03-26

发明专利申请公布

状态信息

公布

摘要

本公开公开了一种多频点材料测试系统及方法，通过同轴开式谐振腔的主模没有杂模干扰的优点，通过谐振频点的偏移推出被测材料的介电常数，再通过算法反推出更高频段内的谐振频点偏移后的大致所在位置，从而扩展了测试频率的范围，本公开的多频点材料测试方法适用于大多数材料的测量，尤其适用于石英、聚四氟乙烯、蓝宝石、刚玉、陶瓷等介电特性随频率变化小的材料的测量。

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