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专利状态
一种光照调节装置及检测系统
有效
专利申请进度
申请
2022-09-19
申请公布
2022-10-25
授权
2022-12-02
预估到期
2042-09-19
专利基础信息
申请号 CN202211137099.0 申请日 2022-09-19
申请公布号 CN115237183A 申请公布日 2022-10-25
授权公布号 CN115237183B 授权公告日 2022-12-02
分类号 G05D25/02;H01L21/66
分类 控制;调节;
申请人名称 苏州天准科技股份有限公司
申请人地址 江苏省苏州市高新区科技城浔阳江路70号
专利法律状态
  • 2022-12-02
    授权
    状态信息
    授权
  • 2022-10-25
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明涉及半导体检测技术领域,提供了一种光照调节装置及检测系统,光照调节装置包括多组感应组、位置传感器、致动器、光强检测器和调节处理器;感应组包括横杆、立杆和感应形变端;光强检测器用于检测感应形变端辐射的光强;根据感应形变端的形状变化和感应组的位置变化驱动感应组的位置;检测系统包括多波长激光模块、测量光照模块、涡旋参考模块、对焦光学模块、图像采集模块、数据处理模块、外部输出模块和光强调节模块;该光照调节装置结构简单,每组感应组独立控制,通过位置调节实现缝隙透光调整光照强度的均匀性,提高了检测系统的成像或图像采集的质量,适应于多规格晶圆或光罩的检测,便于在半导体如晶圆或光罩的检测领域推广应用。