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专利状态
检测装置及检测方法
有效
专利申请进度
申请
2022-12-28
申请公布
2023-09-19
授权
2024-02-06
预估到期
2042-12-28
专利基础信息
申请号 CN202211696837.5 申请日 2022-12-28
申请公布号 CN116773558A 申请公布日 2023-09-19
授权公布号 CN116773558B 授权公告日 2024-02-06
分类号 G01N23/04;G01N23/18;G01N23/02;B65G37/00;B07C5/34;B07C5/36
分类 测量;测试;
申请人名称 同方威视技术股份有限公司
申请人地址 北京市海淀区双清路清华大学同方大厦A座2层
专利法律状态
  • 2024-02-06
    授权
    状态信息
    授权
  • 2023-10-10
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):G01N23/04;申请日:20221228
  • 2023-09-19
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明公开了一种检测装置及检测系统,所述检测装置包括:第一传送机构、射线成像检测机构、堆叠机构、第二传送机构和断层成像检测机构。第一传送机构用于传送电芯;射线成像检测机构对电芯进行检测;堆叠机构适于将电芯堆叠成电芯组;第二传送机构用于传送电芯组;断层成像检测机构适于对电芯组进行检测。由此,通过检测装置对电芯进行检测,可在提高检测效果的同时提高检测效率,保证电芯成品具有较高安全性。