双点束扫描X射线发生器_专利查询-品牌网

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专利状态

双点束扫描X射线发生器

有效

专利申请进度

申请

2018-05-10

申请公布

2018-08-28

授权

2024-03-12

预估到期

2038-05-10

专利基础信息

申请号	CN201810445416.2	申请日	2018-05-10
申请公布号	CN108461369A	申请公布日	2018-08-28
授权公布号	CN108461369B	授权公告日	2024-03-12
分类号	H01J35/06;H01J35/08;H01J35/16
分类	基本电气元件;
申请人名称	同方威视技术股份有限公司
申请人地址	北京市海淀区双清路同方大厦A座2层

专利法律状态

2024-03-12

授权

状态信息

授权
2018-09-21

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):H01J35/06；申请日:20180510
2018-08-28

公布

状态信息

公布

摘要

本公开的实施例公开了双点束扫描X射线发生器。双点束扫描X射线发生器包括：外壳；阳极，设置在外壳内，所述阳极包括两个相对的第一端和第二端；设置在所述阳极的第一端端面的第一靶，设置在所述阳极第二端端面的第二靶；第一阴极和第二阴极；以及第一防护转筒和第二防护转筒，其中第一防护转筒包围所述阳极的至少第一端，并且允许第一阴极发射的电子到达第一靶，屏蔽散射的电子和第一靶产生的X射线；第二防护转筒包围所述阳极的至少第二端，并且允许第二阴极发射的电子到达第二靶，屏蔽散射的电子和第二靶产生的X射线。

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